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Caractéristiques techniques

Analyse d'une structure de cristal hexagonale - Méthode despoudres selon Debye-Scherrer

Numéro d'article: P2541505

Principe

Une feuille de zirconium polycristallin est irradiée par des rayons X. Les réflexions Debye-Scherrer qui en résultent sont photographiées puis évaluées. Les réflexions de Debye-Scherrer qui en résultent sont photographiées puis évaluées.

Objectifs

  1. Prenez des photographies de Debye-Scherrer de l'échantillon de zirconium.
  2. Évaluez les anneaux de Debye-Scherrer et attribuez-les aux plans de réseau correspondants.
  3. Déterminez les constantes de réseau du matériau de l'échantillon.
  4. Déterminez le nombre d'atomes dans une cellule unitaire de l'échantillon.

Ce que vous pouvez apprendre sur

  • Les réseaux cristallins
  • les systèmes cristallins
  • réseau réciproque
  • Indices de Miller
  • l'amplitude de la structure
  • facteur de forme atomique
  • Diffusion de Bragg

Contenu de livraison

XR 4.0 Appareil à rayons X, 35 kV 09057-99 1
Module tiroir avec tube à rayons X, anticathode cuivre 09057-51 1
XR 4.0 Kit d'extension analyse cristallographique 09145-88 1
 
PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
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