Principe

Le rayonnement de fluorescence des éléments d'un échantillon peut provoquer un rayonnement de fluorescence à l'intérieur du détecteur et de son boîtier si l'énergie est suffisamment élevée. Par conséquent, le spectre peut inclure des lignes qui ne sont pas causées par l'échantillon. Pour la détection d'éventuelles raies supplémentaires, le détecteur est soumis à un rayonnement X monochromatique à l'aide d'un monocristal. À titre de comparaison, on mesure les spectres de fluorescence d'échantillons de métal pur.

Objectifs

1. Calibrer le détecteur d'énergie à semi-conducteurs à l'aide du rayonnement de fluorescence caractéristique de l'échantillon de calibrage.
2. Irradier le détecteur d'énergie à rayons X avec des rayons X monoénergétiques qui sont produits par la réflexion de Bragg sur un monocristal de LiF. Mesurer le spectre de fluorescence résultant.
3. Déterminer l'énergie des lignes du spectre.
4. Assignez les lignes aux éléments en comparant les valeurs mesurées aux valeurs du tableau.
5. Mesure et évaluation comparatives des spectres de fluorescence d'échantillons de métaux purs.

Ce que vous pouvez apprendre sur

• Bremsstrahlung
• Rayonnement X caractéristique
• Rayonnement de fluorescence
• Rendement de fluorescence
• Interférence des rayons X
• Structures cristallines
• Loi de Bragg
• Diffusion Compton
• Pics de fuite
• Détecteurs d'énergie à semi-conducteurs
• Analyseurs multicanaux